植物冠层分析系统为研究植物长势提供科学解决方案

植物冠层分析系统可以无损测量叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射（PAR）、植被表面参数、分析植被指数RVI、NDVI、作物叶层含氮量、氮素积累等。为什么说植物冠层分析系统为植物长势监测提供科学解决方案，那就先来了解下植物冠层与植物长势有什么关系，植物冠层与植物生长的关系主要体现在以下几个方面:
1. 光能:植物对光能的利用，如光的透射和反射
2. 固定二氧化碳在植物叶片光合作用时。
3.植物的生长取决于蒸腾作用的大小。

因此，在一定程度上，借助植物冠层分析仪获取植物冠层的相关指标，可以准确地帮助判断和评价植物生长，动态监测植物生长，为植物生长监测提供科学的解决方案。

植物冠层反映了植物的生长状况和植物营养缺乏的程度。比如施氮量的变化会引起作物叶片的生理和形态结构发生相应的变化，从而导致作物光谱反射特征的变化。这是通过光谱手段获取作物生化参数信息的理论基础，从而使大面积监测作物营养状况成为可能，也是精细化农业变量施肥不可或缺的基础技术。因此，植物冠层的测量也是一个非常必要的生产环节。植物冠层分析系统主要用于大田作物长势监测、保护地作物实时营养诊断、高光效育种材料筛选、农产品和食品快速检测等领域。