TPM-BX-1小麦表型检测系统
小麦表型检测系统可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标,这些参数指标在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种研究中发挥着至关重要的作用。
作物表型检测系统主要用于各类作物表型性状测量,助力作物表型检测与分析研究,适用于育种科学研究。主要产品有大豆表型检测系统、小麦表型检测系统、玉米表型检测系统、水稻表型检测系统等。
小麦表型检测系统可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标,这些参数指标在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种研究中发挥着至关重要的作用。
水稻表型检测系统可测量水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、穗长、水稻剑叶夹角、茎粗、水稻株高、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗对应的穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标,广泛应用于农科院,高校,育种公司,种子站的水稻研究。
玉米表型检测系统可测量凸包面积,外接矩形面积,长宽比,侧视角紧凑度,侧视角投影面积,株高,茎秆节间距和茎粗,叶长,叶片弯曲度,茎叶夹角和千粒重等指标,广泛适用于各农科院,高校,育种公司,种子站的玉米研究。
大豆表型检测系统可以测量大豆夹角,茎粗,总数量和千粒重等指标,为大豆品种筛选,产量预测,基因定位,功能解析等方面提供参数支持,广泛应用于各农科院,高校,育种公司,种子站的大豆研究。
麦穗形态测量仪基于机器视觉技术,利用手机摄像头获取麦穗的图像,利用图像处理算法现场分析,获取麦穗形态参数,软件具有AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术,自动计算出小麦的穗长,一次测定,可同时获得麦穗穗长、小穗数等多项指标。主要应用于应用于小麦育种、小麦遗传研究等领域。
稻穗形态测量仪基于机器视觉技术,利用手机摄像头获取稻穗的图像,利用图像处理算法现场分析,获取稻穗形态参数,AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术,自动计算出水稻的穗长。
作物表型数据采集仪可以实现自动记录测量数据,测量数据直接通过U盘导出,一个人即可完成测量,提高工作效率和准确性。对田间表型信息数据的获取、促进表型研究和遗传育种研究提供了技术支撑,适用于大田作物、温室大棚作物;粮食、油料、蔬菜、花卉等植物。